產品名稱：按鍵打擊壽命測試儀
產品型號：JP-AD3
產品簡介：
按鍵壽命試驗機可對手機按鍵、MP3按鍵、電腦鍵盤、鼠標按鍵、電梯按鈕、電子詞典、搖控器按鍵、橡膠按鍵等做壽命測試，適用于檢測按鍵開關、輕觸開關、薄膜開關按鍵等各類按鍵進行壽命試驗。具有速度可調，次數任意設定，同時可測試數個產品（每個產品均可多點測試）。另每個按鍵可以設定不同壓力及不同高度。同時采用每個測試頭分開控制,專用夾具設計，人性化操作,可滿足客戶不同測試需求!
主要參數：
*測試速度：5~60次/分鐘，可任意調節(jié)
*測試行程：可任意調測試行程（0~10mm）
*測試次數：1~999999次,可任意設定
*驅動機構：無極調速繼電馬達
*驅動功率：40W（根據測試需求更改）
*測試項目：自主研發(fā)PLC芯片自動檢測被測開關的電氣性能與機械性能壽命老化試驗(如被測產品損壞；儀器以報警信號發(fā)出，并停止作業(yè)，人性化操作)
*電源：AC220V
*尺寸：根據產品制定
*重量：根據產品制定
★可根據客戶需求定制不同規(guī)格、類型儀器。
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