線材測徑儀是應(yīng)用于高速生產(chǎn)線上的測量設(shè)備，測量頻率越大，檢測的點(diǎn)數(shù)越大，發(fā)現(xiàn)缺陷的幾率越大，因此將線材測徑儀制成高頻測量模式。
高速線材測徑儀的測量精度及測量頻率直接影響到被測軋材的檢測力度，所以，在使用高速在線測徑儀的時(shí)候一定要注意測量精度的影響。
 
當(dāng)測量高速運(yùn)動的物體時(shí)，被測物會產(chǎn)生不規(guī)則的高頻抖動。如果測頭的測量頻率低，在CCD芯片掃描的時(shí)段內(nèi)，CCD芯片上的影像就會出現(xiàn)虛影或影像的重疊，會導(dǎo)致測量系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)與被測物的實(shí)際尺寸不符。測量頻率越高，芯片的掃描時(shí)段越小，虛影或影像的重疊也就越小，所以測量頻率越高測量精度越高。以軋制速度為100m/s的高速線材為例：當(dāng)測量頻率為100 Hz時(shí)，采樣間隔為1米，即每米測量1個(gè)點(diǎn)；當(dāng)測量頻率為500 Hz時(shí)，采樣間隔為0.2米，即每米測量5個(gè)點(diǎn)。顯然高頻率的測量系統(tǒng)更容易檢測出被測物的外輪廓缺陷。影響采樣間隔和單位長度內(nèi)的測量點(diǎn)數(shù)。
線陣CCD芯片像元分辨率為4.7um,光路系統(tǒng)的物像比為1.5:1。因此，若不計(jì)光路誤差精度可達(dá)7.05um。在實(shí)際使用過程中，測徑儀的測量誤差主要是由光路系統(tǒng)誤差和被測物的高頻抖動造成的。經(jīng)過多次實(shí)驗(yàn)和檢測，測徑儀在靜態(tài)量時(shí)誤差不大于±0.01mm；在動態(tài)測量時(shí)誤差不大于±0.02mm。
線材測徑儀非常適用于各種軋鋼的高速檢測，速度快、更全面、實(shí)時(shí)性好，是高質(zhì)量生產(chǎn)中的必備設(shè)備之一。

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